0N型电缆

2017年4月21日，上海 – W. L. Gore & Associates (戈尔)将参展4月25-27日在上海开幕的EDICON 2017中国电子设计创新大会，届时将展示为高密度测试和互联开发的GORE® PHASEFLEX®微波射频测试组件的新产品—0N型电缆。

当今，无线通讯装置和宇航系统的高密度和模块化测试仪表设计越来越复杂，端口的数量也越来越多，需要连接32条测试电缆组件，甚至更多。在仪器的校准和测试被测器件时，需要频繁弯折电缆，这可能会影响电缆的相位和幅度的稳定性，最终会影响测试结果的准确性。因此，需要采用更细、更轻、柔性更好的测试电缆组件，以便于连接矢网分析仪（VNA）如ENA 和PXIe，即使在狭小的空间里也能方便互联和操作。同时，测试电缆组件需要确保高精准的测试测量结果，减少校准和停机时间、提高产出，以降低测试总成本。

为了满足这些严格的要求，戈尔推出GORE® PHASEFLEX® 微波射频测试电缆组件— 0N型电缆，该产品是目前市场上线径最细、重量最轻、最耐用的内铠装微波射频电缆组件，是模块化、多端口以及多站点测试系统的理想解决方案。戈尔的这款高密度测试电缆组件具有非常稳定的电气性能，能够确保一致、可重复的测试测量结果，频率到50 GHz.

稳相稳幅，经久耐用

建立在GORE® PHASEFLEX®微波射频测试电缆组件基础上的0N型电缆，具有独一无二的小线径结构，重量轻，不仅在狭小空间内更加容易布线，而且减小对测试端口和被测器件的扭力。并且，该高密度的测试电缆组件在弯折和连续运动时，仍然保持优异的相位和幅度的稳定性。

提高测试效率、降低测试成本

采用GORE® PHASEFLEX®微波射频测试电缆组件的新产品0N型电缆，将减少校准、降低故障，增加测试准确度、提高产出、延长使用寿命，降低总成本。戈尔推出的这款新测试组件方案提供优异的电气性能和机械保护， 确保性能持久，而且体积小、性价比非常高。

由于集成了耐用的防护结构和优异的性能，而且电缆线径小、重量轻，GORE® PHASEFLEX® 微波射频测试电缆组件0N型电缆是模块化、多端口以及多站点的测试系统应用的理想解决方案，如：

  • 5G测试与互联
  • 射频器件与装置的开发和生产测试
  • 高速数字装置、组件的测试
  • 模块化测试仪器仪表，如PXIe、 AXIe
  • 射频开关

需了解更多产品信息，请莅临戈尔在EDICON China 2017 电子设计创新大会319展位，或访问gore.com/test。

关于戈尔公司

戈尔公司是一家专注于开发和产品创新的技术导向型企业。除了知名度很高的防水透气GORE-TEX® 纺织面料，戈尔产品范围非常广泛，从高性能的纺织面料、医疗植入器械到工业制造部件和航空航天电子产品。戈尔公司成立于1958年，总部位于美国特拉华州Newark市，全球员工约10,000人，工厂遍布于美国、德国、英国、日本和中国，在全球设立有销售子公司。戈尔被评为美国“100 Best Companies to Work For”公司，而且是该项评选自1984设立以来一直榜上有名的少数几家公司之一。戈尔在其他国家也入选该评选名单。更多信息，请访问公司官网gore.com。